论文标题：

A Machine Learning-Based Method for Assisted Analysis and Decision Making of Wafer Yield

作者姓名：

Jieli Qin

刊物名称：

Int. Conf. Mach. Learn. Intell. Syst. Eng., MLISE

年卷期页：

2024,1,183-186

收录情况：

EI会议

原文链接：

10.1109/MLISE62164.2024.10674377